Analisi della fluorescenza a raggi X, XRF di Chromerz | © CRB Analyse Service GmbH

Minerale di cromo, pietre refrattarie contenenti cromo

Dati chiave sul minerale di cromo e sui pietre refrattarie contenenti cromo

 

  • Composizione: Minerali di cromo con 30–60% Cr2O3. Altri componenti principali, MgO, Fe2O3.
  • Materie prime: I minerali di cromo sono utilizzati per la produzione di materiali refrattari resistenti alle alte temperature e alla corrosione come la magnesiacromite, la cromite, la microcromite, i mattoni di corindone cromite.
  • Utilizzare: Attrezzature forni dell'industria petrolchimica e petrolchimica (reattori di fuliggine), forni a vetro, impianti di cottura dei rifiuti, altiforni, forni cementizi.

Tipi di prove per l'analisi di minerali di cromo, mattoni refrattari contenenti cromo, mattoni refrattari contenenti cromo

Analisi quantitativa della fluorescenza a raggi X da una digestione di fusione

XRF quantitativo da una compressa orodispersibile su 12, 16, 20, 30 o 40 elementi secondo DIN EN ISO 12677 (2012), DIN EN 15309 (2007), DIN EN 19. Per l'analisi di campioni ossidici e ossidabili di varie composizioni come vetro e fibre di vetro, suoli, roccie, materie prime minerali, ceramica e molto altro.
In questo processo, il materiale campione viene posto con un flusso (tetraborato di litio), fuso in atmosfera ossidante, spento come una tavoletta di vetro omogenea e analizzato come tale con alta precisione.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Analisi di screening su 71 elementi

Il Fundamental Parameter Program Omnian è utilizzato per XRF indipendente dalla matrice, quantitativa, semi-quantitativa o qualitativa di campioni sconosciuti di diverse proprietà del materiale e composizioni (inorganiche e organiche). Il materiale campione può essere preparato in forma preparata o con una composizione adeguata (radiografia e sottovuoto!) e la texture superficiale possono essere analizzate non preparate e non distruttive, per cui si possono determinare le concentrazioni di elementi tra il limite di rilevazione, solitamente 250 µg/g e 100%.

! Avvertenza !

Per effettuare un'analisi standardizzata , abbiamo bisogno di materiale di campionamento analitico fine (< 63 µm) e essiccato (105°C) nonché del valore della perdita di luminosità (LOI). La rettificazione, l'essiccazione e la determinazione della perdita di bagliore vengono eseguite, se necessario o non specificate, alle condizioni specificate nel prezzo di listino XRF.

Norme e linee guida per l'analisi a fluorescenza a raggi X del minerale di cromo, pietre refrattarie contenenti cromo 

  • DIN EN ISO 12677:2013-02 – Analisi chimica dei prodotti refrattari mediante analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Processo di fusione
  • DIN EN ISO 26845:2008-06 – Analisi chimica Prodotti refrattari - Requisiti generali per l'analisi chimica a umido, metodi di spettrometria ad assorbimento atomico (AAS), spettrometria ad emissione atomica con eccitazione mediante plasma accoppiato induttivamente (ICP-AES)
  • DIN 51001:2003-08 – Prove di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per X Analisi della fluorescenza a raggi (XRF)
  • DIN 51001 Supplemento 1:2010-05 – Test di materie prime e materiali ossidici - Principi generali di funzionamento per l'analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) - Panoramica dei metodi di digestione correlati al gruppo di materiali per la produzione di campioni per la XRF
  • DIN 51081:2002-12 – Test di materie prime e materiali ossidici - Determinazione della variazione di massa in Glow
  • DIN 51418- 1:2008-08 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 1: Termini e principi generali
  • DIN 51418- 2:2015-03 – Analisi spettrale a raggi X - Emissione a raggi X e analisi della fluorescenza a raggi X (XRF) - Parte 2: Termini e nozioni di base per la misurazione, la calibrazione e la valutazione